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    • SpectrumTEQ-EL 電致發光量子效率測量系統
      SpectrumTEQ-EL 電致發光量子效率測量系統

      SpectrumTEQ-EL 電致發光量子效率測量系統,可以針對發光器件的光電特性進行有效測量,系統搭配的QEpro光譜儀具有信噪比、低雜散光等特性,可確保測量結果得準確性;同時,系統配有強大的測試軟件,對話框式的軟件操作界面讓測量過程變得更為簡單。

      時間:2024-01-10型號:訪問量:1609
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    • SpectrumTEQ-PL光致發光量子效率測量系統
      SpectrumTEQ-PL光致發光量子效率測量系統

      SpectrumTEQ-PL光致發光量子效率測量系統,針對器件的光致發光特性進行有效測量,可在手套箱內完成搭建,無需將樣品取出,即可完成光致發光量子效率的測試。系統搭配QE Pro光譜儀信噪比高、雜散光低,動態范圍大,適合不同波段和強度的激發光和發射光測量。同時,系統配有強大的測試軟件,向導式的軟件操作邏輯讓測試過程變的簡單,迅速。

      時間:2024-01-10型號:訪問量:1461
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    • Czerny-Turner光譜儀LTMS模塊化液體透射測量系統
      Czerny-Turner光譜儀LTMS模塊化液體透射測量系統

      分析或監測食品飲料、酒類、染料等需要對組分嚴格控制的溶液的不同組分的濃度

      時間:2024-01-04型號:Czerny-Turner光譜儀訪問量:1993
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